「H8マイコン制御実験」

東京電機大学出版局，2004年3月

「論理回路の設計」

コロナ社，2007年4月

 「電気・電子回路計算法入門講座」

電波新聞社，2008年7月

 「C言語によるPICプログラミング入門」

東京電機大学出版局，2015年6月

「基礎コンピュータシステム」

東京電機大学出版局，2004年3月

「H8アセンブラ入門」

東京電機大学出版局，2003年10月

「基礎コンピュータ工学」

東京電機大学出版局，2002年9月

「PICアセンブラ入門」

東京電機大学出版局，2001年2月

「重度肢体不自由者のためのコミュニケーション支援システムの開発」

高野陽介，小野寺良太，阿部高也，浅川毅
日本生体医工学会 第十一回BME on Dimentia研究会
2009年3月，日本生体医工学会

「Tester Structure Expression Language and Its Application to the Environment for VLSI Tester Program Development」

Masayuki Sato，Hiroki Wakamatsu，Masayuki Arai，Kenichi Ichino，Kazuhiko Iwasaki，T.Asakawa
Jounal fo Information Precessing Systems Vol.4 PP.121-132
2008年11月，Korea Information ProcessingSociety

「LSIテスタとデバイス間の伝送経路における信号伝播に関するシミュレーションの効率化」

土屋秀和，阿部高也，浅川毅
東海大学紀要情報理工学部 Vol.8，No.1 PP.17-22
2008年9月，東海大学

「多軸制御パルスの生成に関するシステム構成の評価」

阿部高也，土屋秀和，浅川毅
第七回情報科学技術フォーラム
2008年9月，電子情報通信学会，情報処理学会

「教育用マイクロプロセッサMPU48の開発と授業への導入」

堀桂太郎，松埜智，土屋秀和，浅川毅
コンピュータ＆エデュケーション Vol.24 PP.58-63
2008年6月，CIEC

「ATPGベクトルを利用したTPGの電流評価」

土屋秀和，阿部高也，浅川毅
ディペンダブルコンピューティング研究会(DC2008)
2008年2月，電子情報通信学会

「Tester Structure Expression Language and Its Application to Tester Selection」

Masayuki Sato，Hiroki Wakamatsu，Masayuki Arai，Kenichi Ichino，Kazuhiko Iwasaki，T.Asakawa
DIGEST OF PAPERS IEEE 8th Workshop on RTL and High Level Testing
2007年10月，IEEE

「LSIテスタとデバイス間の伝送経路の評価とシミュレーションモデル化について」土屋秀和，浅川毅，佐藤正幸

電子情報通信学会信頼性研究会

2007年9月，電子情報通信学会

「早期認知症の予防やリハビリに用いるオンデマンド型回想式すごろくシステムの提案」

土屋秀和，小島悠，中濱信彦，井上豊，浅川毅
日本早期認知症学会論文誌
2007年7月，日本早期認知症学会

「NAND/NOR 論理変換回路に関する一検討」

八幡雅也，五十嵐雄太，土屋秀和，浅川毅
2006年電子情報通信学会総合大会
2006年3月，電子情報通信学会

「テストボードにおけるクロストークの影響に関する一検討」

土屋秀和，八幡雅也，佐藤正幸，若松弘樹，西村信幸，浅川毅
電子情報通信学会総合大会
2006年3月，電子情報通信学会

「分散型デコーダを用いた命令デコーダの構成」

土屋秀和，八幡雅也，浅川毅
第四回情報科学技術フォーラム
2005年9月，情報処理学会，電子情報通信学会

「システム思考を高める教育における総合型実習の活用」

粉川昌巳，堀桂太郎，浅川毅
コンピュータ＆エデュケーション Vol.17，PP.105-110
2004年12月，CIEC

「リコンフィギャラブル指向分散型デコーダに関する一検討」

堀桂太郎，浅川 毅
2004年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会
2004年9月，電子情報通信学会

「組込み自己テストにおけるテストパターン発生回路」

浅川毅，福本聡，岩崎一彦
信頼性 Vol. 26 No. 4，PP. 277-290
2004年6月，日本信頼性学会

「Hybrid BIST Design for n-Detection Test Using Partially Rotational Scan」

K.Ichino，T.Asakawa，S.Fukumoto，S.Kajihara，K.Iwasaki
電子情報通信学会英文論文誌Ｄ Vol. E85-D No. 10，PP. 1490-1497
2002年10月，電子情報通信学会

「Hybrid BIST Using Partially Rotational Scan」

K.Ichino，T.Asakawa，S.Fukumoto，K.Iwasaki，S.Kajihara
PROCEEDINGS OF THE TENTH ASIAN TESTSYMPOSIUM PP.379-384
2001年11月，IEEE

「トランジション故障を検出するBIST指向テストパターン発生回路」

浅川毅 ，岩崎一彦，梶原誠司
電子情報通信学会誌 D-Ⅰ，Vol. J84-D-Ⅰ NO.2，PP.165-172
2001年2月，電子情報通信学会